Zondo kaiščio medžiagos

„Probe Materials“ siūlo tauriųjų metalinių vielų sprendimus, sukurtus puslaidininkių bandymams ir tiksliam jutimui. Šios medžiagos, sudarytos iš paladžio ir platinos{1}}pagrįstų lydinių sistemų, gaminamos naudojant didelio-grynumo gryninimo ir tikslaus vielos tempimo procesus. Juose patikimas elektros laidumas ir cheminis inertiškumas derinamas su tvirtu mechaniniu patvarumu, įskaitant spyruoklinį-atsparumą ir atsparumą dilimui. Nesvarbu, ar išlaikomas aukštas-ciklų derinimas plokštelių rūšiavimo ir galutinio bandymo metu, ar veikia aukštoje-temperatūroje ir korozinėje aplinkoje, mūsų zondo medžiagos išlaiko stabilų atsparumą kontaktams ir signalo vientisumą, atitinkančius medžiagų nuoseklumo reikalavimus, taikomus bandymams ir matavimams.

Siųsti užklausą

Pagrindiniai produktai

Paladžio lydinio viela

Skaityti daugiau

Platininė{0}}lydinio viela

Skaityti daugiau

Savybės

Mūsų zondo kaiščio medžiagos subalansuoja elektrinį perdavimą ir atsparumą mechaniniam nuovargiui, užtikrindamos stabilų kontakto veikimą atliekant aukšto -dažnio bandymus ir sudėtingas darbo sąlygas.

Stabilus kontaktinis pasipriešinimas
Atsparus nuovargiui ir dilimui
Terminis ir cheminis stabilumas

Didelis grynumas ir griežtos tolerancijos
Geras spyruokliškumas-nugarėlė ir formavimas
Pritaikomi lydiniai ir skersmenys

Zondo kaiščio medžiagų savybės

Kategorija	Aprašymas
Medžiagų sistemos	Tauriųjų metalų zondas ir tikslios testavimo vielos medžiagos
Produkto formos	Tikslūs apvalūs laidai ir pritaikyti profiliai
Lydinių sistemos	Paladžio lydinio laidai ir platinos{0}}lydinio laidai
Spektaklis	Stabilios kontaktinės savybės, subalansuotas stiprumas ir lankstumas
Matmenų valdymas	Tikslus formavimas su kontroliuojamais nuokrypiais
Tiekimo formatas	Standartiniai dydžiai ir pritaikyti vielos matmenys

Probe Pin medžiagų pritaikymas įvairiose pramonės šakose

Vaflių rūšiavimas (CP testavimas):Naudojama smulkaus{0}}plokštinio zondo kortelėms, kurioms reikalingas itin-mažas triukšmas, didelis stabilumas ir ilgas zondo eksploatavimo laikas.
Galutinis testas (FT testavimas):Taikoma pažangių IC paketų (BGA, QFN, CSP) bandymo kaiščiams, galintiems atlaikyti milijonus didelio{0}}ciklų įterpimų.
Aukšto-dažnio ir mikro-zondai:Pagrindiniai laidūs komponentai, skirti RF bandymo kaiščiams,{0}}didelės srovės zondams ir tiksliųjų zondų moduliams.
Aukštos{0}}temperatūros jutimas:Aukštos{0}}temperatūrinės termoporos, RTD laidai ir jutiklių laidai, veikiantys griežtoje aplinkoje.
Tikslieji instrumentai ir medicina:Elektrocheminiai zondai, laboratoriniai tikslūs elektrodai ir didelio{0}}tikslumo medicininiai jutimo komponentai.